減反射膜反射比智能測試儀特點(diǎn)
- 減反射膜反射比智能測試儀是具有良好結構設計和精密的雙光束光學(xué)系統的儀器，可以測試的材料有：具光學(xué)性能的分子材料制成的眼鏡片，太陽(yáng)鏡，駕駛用鏡，偏光鏡等滿(mǎn)足GB-10810.3-2006測試標準。
- 關(guān)鍵部件均選用進(jìn)口器件，濱松無(wú)臭氧環(huán)保型氘燈，德國歐士朗鎢燈，美國派來(lái)茲檢測器。保證了儀器性能的高可靠性。
- 具有開(kāi)放式的樣品室設計，反射樣品架、固體樣品架、于光學(xué)鍍膜高反和低反檢測、帶通濾光片以及眼鏡片鍍膜曲線(xiàn)測試。
- 掃描曲線(xiàn)可以和TFC膜系設計軟件對接，以便鍍膜時(shí)及時(shí)調整參數。
主要技術(shù)指標
| ★★光路結構 | CT型 單色器焦距250mm |
| 顯示方式： | 6英寸 320×240 點(diǎn)陣帶背光數字 LCD |
| ★★光源燈： | 預調日本濱松無(wú)臭氧環(huán)保型氘燈 歐司朗長(cháng)壽命鹵鎢燈 |
| 測光方式 | 透過(guò)率，吸光度，能量，反射率 |
| 光譜帶寬 | 2nm |
| 波長(cháng)范圍 | 190nm～1100nm |
| 波長(cháng)準確度 | ≤±0.3nm |
| 波長(cháng)重復性 | ≤0.1nm |
| ★光度范圍 | 0-999.9%(t),-4A～4A，0-9999C，1-9999F |
| 光度準確度 | ≤±0.3%(t) (0～100%t) ≤±0.002A(0～0.5A) ≤±0.004A(0.5～1A) |
| 光度重復性 | ≤0.15%(t) (0-100%t) ≤0.001A(0～0.5A) ≤0.002A(0.5～1A) |
| 雜光 | ≤0.03%(t) （220nm NaI，360nm NaNO2）） |
| ★穩定性 | ≤±0.0004A/h（500nm，開(kāi)機預熱30min） |
| 噪聲 | ≤±0.0003A |
| ★基線(xiàn)平直度 | ≤±0.001A（190～1100nm） |
| ★★導數分辨率 | >0.5 |
| 掃描速度 | 快 中 慢 |
| ★★電源電壓 | 100V～240V范圍內都可以使用 50/60±1Hz |
| 儀器尺寸
| 650×450×220（mm） |
●光譜測量
峰谷檢測 掃描參數設定 掃描圖譜
以下為客戶(hù)樣品實(shí)測數據：
用戶(hù)樣品鏡片反射曲線(xiàn)
導出數據： 另存為文本格式：
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