分光光度計產(chǎn)生雜散光的因很多，其較主要的原因大致有以下9個(gè)方面：

　　1、灰塵沾污光學(xué)元件，如光柵、棱鏡、透鏡、反射鏡、濾光片等；

　　2、光學(xué)元件被損傷，或光學(xué)元件產(chǎn)生的其他缺陷，如光柵、透鏡和反射鏡、棱鏡材料中的氣泡等；

　　3、準直系約部或有關(guān)隔板邊緣的反射；

　　4、光學(xué)系統或檢測器沒(méi)有作適當的屏蔽；

　　5、熱輻射或熒光引起的二次電子發(fā)射；

　　6、狹縫的缺陷；

　　7、光束孔徑不匹配；

　　8、光學(xué)系統的像差；

　　9、單色器內壁黑化處理不當。

　　分光光度計只測試220nm處的雜散光，

　　不測試340nm處的雜散光，

　　這樣是不正確的，

　　需測試220nm處雜散光是因為：

　?、贀x器學(xué)理論中的電光源理論，氘燈在220nm處能量很小，即信號很小，容易顯現雜散光；

　?、诟鶕孔庸鈱W(xué)理論，波長(cháng)是能量的倒數，波長(cháng)短能量大，容易產(chǎn)生雜散光，而220nm處屬于短波部分；

　?、鄹鶕x器學(xué)理論中的光電發(fā)射理論，光電倍增管在220nm處的光譜響應(靈敏度)低，容易顯現雜散光。而測試340nm處雜散光的原因是*不同的，因為340nm處一般是氘燈換鎢燈和儀器調換濾光片的地方，此時(shí)容易產(chǎn)生雜散光。所以，對于分光光度計來(lái)講，應該測試220nm和340nm兩處的雜散光。

　　雜散光的測試方法：

　　1、首先將參比液注入配對石英石吸收池，分別放置在參比池座和試樣池座內。再測定波段掃描基線(xiàn)并使之平滑。

　　2、將減光片插入試樣光路的濾光片槽內，其讀數即為減光片的衰減值K，然后將減光片插入參比光路的濾光片座內，

　　3、將石英吸收池中的蒸餾水依次換成上述截止濾光液，插入試樣試樣池座中，在相應的波段內掃描、打??；在記錄紙的作標上量取測定波長(cháng)處的透光度，乘以衰減值K，即得各測定波長(cháng)處的雜散光值。