(1)背景校正能力
儀器背景校正的能力，一般用一定背景吸光度校正前后比值來(lái)衡量，該比值越大，表明儀器背景校正的能力越強。一般儀器要求氘燈儀器在1A背景下的背景校正能力不小于30倍。塞曼儀器在1A背景下的背景校正能力不小于60倍。
(2)測試方法
對于火焰原子化器的儀器，在Cd 228.8nm波長(cháng)處，先用非背景校正方式測量。調零后，將吸光度約為1（透光率為10%）的濾光片插入光路，讀下吸光度A1。再改為背景校正方式，調零后，再把該濾光片插入光路，讀下吸光度A2。A1/A2即背景校正能力倍數。
對于帶有石墨爐原子化器的儀器，將儀器參數調到石墨爐法測鎘的*狀態(tài)，以峰高測量方式，先進(jìn)行無(wú)背景校正方式測量。在石墨爐中加入一定量氯化鈉溶液(5mg/mL)使產(chǎn)生吸光度為1左右的吸收信號，讀下該值為A1。再在背景校正方式下測量等量氯化鈉溶液的吸收值A2，讀下吸光度A2。A1 /A2即背景校正能力倍數。