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    原子吸收光譜儀背景校正能力
    更新時(shí)間:2018-10-18 點(diǎn)擊次數:3842

    (1)背景校正能力
    儀器背景校正的能力,一般用一定背景吸光度校正前后比值來(lái)衡量,該比值越大,表明儀器背景校正的能力越強。一般儀器要求氘燈儀器在1A背景下的背景校正能力不小于30倍。塞曼儀器在1A背景下的背景校正能力不小于60倍。
    (2)測試方法
    對于火焰原子化器的儀器,在Cd 228.8nm波長(cháng)處,先用非背景校正方式測量。調零后,將吸光度約為1(透光率為10%)的濾光片插入光路,讀下吸光度A1。再改為背景校正方式,調零后,再把該濾光片插入光路,讀下吸光度A2。A1/A2即背景校正能力倍數。
    對于帶有石墨爐原子化器的儀器,將儀器參數調到石墨爐法測鎘的*狀態(tài),以峰高測量方式,先進(jìn)行無(wú)背景校正方式測量。在石墨爐中加入一定量氯化鈉溶液(5mg/mL)使產(chǎn)生吸光度為1左右的吸收信號,讀下該值為A1。再在背景校正方式下測量等量氯化鈉溶液的吸收值A2,讀下吸光度A2。A1 /A2即背景校正能力倍數。

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